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詳細資料ISBN：9789571160740 規格：平裝 / 248頁 / 21 X 14.8 X 1.5 CM / 普通級/ 單色印刷 / 2版 出版地：台灣 內容簡介 本書的編寫以半導體IC產品的可靠度為例，從電路設計，到封裝製程的所有專業工作者都不能忽略的題材而開展。全書共分六章；開宗明義的第一章旨在介紹給讀者以半導體、IC產品製程、及基本可靠度的知識與觀念。第二章，則從統計與物理兩個面向，致力於幾個對IC產品可用的可靠度壽命分佈模型來解說。第三章，深入淺出地介紹與IC元件有關的幾個基本可靠度問題。第四章，介紹有關後段封裝所可能引起的其它可靠度問題。現今IC業界，為了保證產品的可靠度，從晶圓，到封裝的製程，都有一套公認的可靠度認證過程。特別將認證過程公認的主要規定闡述於第五章。最後，於第六章，介紹對失效品的故障分析。從分析儀器及技術、常見的故障原因，到如何減低故障發生率的未來方向都有精簡的敘述。 本書適合作為電子、電機工程及相關科系研究生教科書，半導體IC業界從業工程師參考書。相關理工科系的大學部學生，如有志於半導體IC一行為業，以本書作為進階的參考書，當亦有所牌益。本書特色： 1. 本書附有元素週期表、AQL選樣計劃表、半導體物理常數表，可供讀者翻閱參考。 2. 唯一一本貫穿半導體產業為題材的專業書籍。以半導體IC產品的可靠度為例，從電路設計，到封裝製程的所有專業工作者都不能忽略的題材。作者簡介傅寬裕 學歷：美國CHICAGO大學物理學博士 經歷： 台灣大學物理學系教授 半導體工業界經驗近30年：任職於TEXAS INSTRUMENTS,MOTOROLA,UMC,ISSI等半導體公司 IEEE JOURNALS∕IRPS 論文審查委員/技術委員會委員 著作： 國際學術期刊∕會議論文發表60多篇 美台專利權36件 中文書《基礎力學》(2003出版) 翻譯SANDER BAIS著VERY SPECIAL RELATIVITY 一書 譯名《圖解愛因斯坦相對論》(即將出版) |
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資料來源：博客來
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